元器件筛选报告 如何进行元器件的筛选，有哪些筛选的项目

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元器件常常会存在假冒伪劣产品，难以确保其质量和可靠性，为了确保产品在正式投入应用的时候排除存在可能性的元器件问题，需要对元器件进行严格的筛选，如何进行元器件的筛选呢，有哪些筛选的项目呢？

一、振动和冲击试验

对产品进行振动和冲击试验，这项试验意在模拟产品在使用的过程中会受到的振动、冲击环境，能够有效的在模拟过程中找到不良伪劣元器件的各种故障问题，发现元器件的虚焊、漏焊等多种故障，该项试验对于一些精密电子设备来说是一项重要的筛选项目。

二、恒温试验

电子元器件的失效大多数的情况是因为其内在的或表面的各种物理化学多种情况引发的，都与温度有着多多少少的联系。元器件在高温的环境中，失效的进程一会被加速，对应的物理化学反应的加速，使得其缺陷的元器件能够及早的暴露出来，便于剔除。该项筛选常常应用在半导体元器件上，通常会持续在高温储存1天到1周之久，能够有效剔除譬如键合不良、氧化层缺陷等各种失效机理的元器件。通过高温贮存后，还可以使元器件的参数性能稳定下来，减少使用中的参数漂移。各种元器件的热应力和筛选时间要适当选择，以免产生新的失效机理。

三、高低温试验

电子产品在使用过程中会遇到各种不同的环境，在不同的环境条件下，会受到热的冷的环境，在热胀冷缩的作用之下，性能较差的元器件就会出现产生各种失效机理，因此能够通过该种试验来让产品在高低温环境下的热胀冷缩的变化，进行产品的筛选，有效的剔除存在性能缺陷的产品，通常的元器件筛选温度在-55℃至+125℃的环境下，循环试验5-10次。

四、离心加速度试验

离心加速度试验又称恒定应力加速度试验。这项筛选通常在半导体器件上进行，把高速旋转产生的离心力作用于器件上，可以剔除键合强度过弱、内引线匹配不良和装架不良的器件，通常选用离心加速度20000g而且持续试验一分钟。

五、电性能试验

各种电子元器件需要在额定功率条件下试验数小时至一周时间。各种元器件的电应力要适当选择，可以等于或稍高于额定条件，但不能引入新的失效机理。在热电应力的共同作用下，能很好地暴露元器件体内和表面的多种潜在缺陷，它是可靠性筛选的一个重要项目。

通过各项目的筛选也能够帮助我们辨别产品的优劣，防止我们购买到伪劣的元器件，影响到后续生产品的质量。在经过元器件筛选后的产品，产品的可靠性水平显著提高，标准状况下使用，产品会产生的失效率会大大降低，产生更为可观的收益。